Kutatói infrastruktúra

A kutatócsoport működési stratégiája, rendje

A kutatócsoport tevékenységét projektszerűen végzi. Külső megrendelések, vagy a csoporton belül felvetődő kutatási témához szerzett anyagok vizsgálatát, az ehhez kapcsolódó méréseket, kísérleteket elkülönített egységben, de mégis alapvetően a kutatócsoport más projektjeiben is hasznosíthatóan, összevethetően kezeli.
Egy-egy vizsgálati projektet (megbízás, vizsgálat és/vagy kísérletsorozat) mindig a csoport egyik tagja vezeti, egyben ő felelős a projekt időbeni és megfelelő minőségű elvégzéséért is. A projektekbe, amennyiben a projektfelelős kívánatosnak tartja külső szakember (analitikus, szakértő, régész, stb.), illetve egyetemi hallgató bevonható, amelyről viszont a projektfelelős a kutatócsoport vezetőjét értesíti, illetve vele erről konzultál.
Az eseti projekteket érintő megbeszéléstől függetlenül a kutatócsoport havi rendszerességgel, valamennyi tag részvételével (!) ülésezik, ahol az elmúlt időszak kiértékeléséről, jövőbeni tervekről, projektlehetőségekről, stratégiai kérdésekről esik szó.
A csoport egységes arculatot öltve működik, saját honlapot üzemeltet. Tagjai törekednek minél több, a kutatócsapat tevékenységéhez köthető publikáció megjelentetésére, különféle szakmai fórumokon előadások megtartására, amelyek természetesen az adott projekten dolgozók neve alatt vannak jegyezve, de lehetőség szerint bennük a kutatócsoport is említésre kerül. A csoport minden évben beszámol munkájáról a Miskolci Egyetem releváns kiadványaiban.

Az ARGUM által használt műszeres infrastruktúra

A kutatócsoport folyamatosan használja a ME Műszaki Anyagtudományi Karán működő az országos NEKIFUT regiszterben Stratégiai kutatási Infrastruktúra besorolású Komplex Képelemző és Szerkezetvizsgáló Laboratórium (LISA) infrastruktúráját és a Műszaki Földtudományi Kar Ásvány- és Közettani Tanszék infrastruktúráját (MFK-AFI). Az alábbiakban bemutatásra kerül az ARGUM által használt berendezések, illetve zárójelben az egyes mérések fajlagos átlagos díjai. Megjegyzendő, hogy a konkrét díjak természetesen a vizsgálandó tárgyak jellegének, illetve a vizsgálati körülmények függvényében módosulhatnak.

LISA:
Röntgen diffrakciós laboratórium:Bruker D8 Advance röntgendiffrakciós berendezés Euler bölcsővel, monocap fókuszálási lehetőséggel, Co röntgencsővel valamint Stresstech gyártmányú, XStress 3000 G3R központ nélküli feszültségmérő röntgendiffraktométer
  • Minőségi és mennyiségi fáziselemzés, textúra vizsgálat.
  • Nemfémes zárványok és intermetallikus fázisok azonosítása.
  • Alakítottság kimutatása, akár kis felületeken is.
  • Korabeli alakítási, öntési technológia definiálása
  • technológiai maradó feszültség vizsgálata

Pásztázó elektronmikroszkópos laboratórium:energiadiszperzív röntgen-mikroszondával és EBSD detektorral felszerelt Zeiss EVO MA10 és Amray 1830 I pásztázó elektronmikroszkópok
  • Nagy felbontású mikroszkópi felvételek.
  • Mikroszerkezet jellemzése, alakítási nyomok, jelleg azonosítása.
  • Gyors átlagos és lokáli összetétel elemzés.
  • Dúsulások elemzése
  • Kristálytani orientáció meghatározása.

Nagyfelbontású szerkezetvizsgáló mikroszkópia:HITACHI SEM EDS szondával, Philips TEM EDS szondával, Raman spektroszkópia, AFM:
  • Nagyfelbontású fázis és elemazonosítás, elemtérképezés, mikroorientáció.

Optikai mikroszkópos laboratórium:Zeiss optikai mikroszkópok (Stereo Discovery, AxioImager, AxioVert), 8x-1000x nagyítás tartomány, Instron Wolpert mikrokeménység-mérő, 2g-20kg terhelőerővel.
  • korrelatív mikroszkópia
  • keménységtraverz

Műszaki Anyagtudományi Kar- GDOS labor:HJY GD-OES Profiler 2 emissziós spektrofotométer
  • Különböző bázisú fémötvözetek összetételének meghatározására
  • Fémbevonatok vastagságának és összetételének meghatározására fém szubsztráton.
  • Többrétegű fémbevonat vastagságának és összetételének meghatározására.
  • Műanyagbevonatok vastagságának és összetételének meghatározására fémeken.
  • Fémek felületi szennyezettségének vizsgálatára (vastagság és összetétel).
  • Passziváló bevonatok vizsgálatára.
  • Korróziós rétegek összetételének, mélységprofiljának és vastagságának mérésére.
  • Festett felületek festési vastagságának és a festék összetételének vizsgálatára.
  • Különböző rétegek összetételének meghatározására a felülettől számított mélység függvényében.
  • Különböző elemek eloszlásának mérésére a mélység függvényében.
  • Fémes és nemfémes elemek koncentrációjának és eloszlásának meghatározására felületen.

MFK-AFI:
Röntgen diffrakciós laboratórium:Bruker D8 Advance diffraktométer, változtatható Bragg-Brentano és Göbel-tükör segítségével előállított párhuzamos nyaláb geometriával, Cu-sugárforrással
  • párhuzamos nyalábbal, grazing-incidence Soller + szcintillációs pontdetektor: felületi bevonatok precíz elemzése
  • parafókuszáló nyalábbal, diffraktált nyalábra hajlított grafit monokromátor + szcintillációs pontdetektor: precíz szerkezet meghatározás, tartalék geometria
  • parafókuszáló nyalábbal, Vantec-1 helyzetérzékelő detektorral: rövid idejű precíz mérésekre, fázisazonosítás, mennyiségi kiértékelés
  • párhuzamos nyalábbal, Vantec-1 helyzetérzékelő detektorral: rövid idejű precíz mérésekre, fázisazonosítás, mennyiségi kiértékelés, rövid idejű reakciók valós idejű megfigyelése, egyenetlen (akár dombor) felületek minőségi vizsgálata
  • kristályos alkotók azonosítása és mennyiségi meghatározása
  • részleges és teljes roncsolás mentes fázisazonosítás bármilyen szilárd minta felületén, 50x30x30 cm kiterjedésben.
  • kristályos alkotók szerkezetének finomítása, hasonló komponensek azonosítása, megkülönböztetése

Gandolfi-kamerás mikrodiffrakciós laboratórium: Cu-sugárforrásra szerelt filmes Gandolfi-kamera, 10-100 mikrométeres szemcsék vizsgálatára, kvázi roncsolásmentes eljáráshoz, olyan anyagok, termékek vizsgálatára, amelyek nem oldhatók meg teljesen roncsolásmentes eljárással, de értékük miatt a mintavételezést a lehető legkisebb mennyiségre kell korlátozni.

Pásztázó elektronmikroszkópos laboratórium:1 db energiadiszperzív és 4 db hullámhosszdiszperzív röntgen-mikroszondával felszerelt Jeol 8600 JXA Superprobe,
  • mikroszkópi felvételek, 3x4 cm felületű tárgyak vizsgálata
  • mikroszerkezet jellemzése, alakítási nyomok, reakciók nyomainak azonosítása.
  • Gyors átlagos és lokális összetétel elemzés, 0,01% kimutatási határral.

Optikai mikroszkópos laboratórium:1 db Zeiss EVO sztereomikroszkóp motoros automatizált fókusszal és nagyfelbontású videokamerával, akár előkép rögzítésére is
  • felületi egyenetlenségek vizsgálata
  • vizsgálati nyomok elemzése
  • 3D kép összeállítása, egyenletességi térkép készítése
  • képelemzés morfometriai és mennyiségi célokkal

Optikai mikroszkópos laboratórium:4 db áteső illetve reflexiós polarizációs kőzettani (metallográfiai) mikroszkóp
  • átvilágított vékonycsiszolati preparátumok szövet-sezrkezeti vizsgálatára,
  • opak anyagok szövet-szerkezeti vizsgálatára,
  • komponensek azonosítására
  • képelemzés morfometriai és mennyiségi célokkal